Evénements



Calendrier

décembre 2017 :

Rien pour ce mois

novembre 2017 | janvier 2018

Equilibrage opérationnel de contrôle vs opérations de production en phase d industrialisation de produits semi-conducteurs

Accueil > Communauté GOSPI > Projets

Acronyme : ECRINS

  • Porteur : TOLLENAERE Michel
  • Laboratoire porteur : G-SCOP

Lors de la phase d’industrialisation d’une technologie les volumes de production augmentent de manière encadrée. Cela permet de fournir à certains clients des produits en avance de phase par rapport au marché, mais également en interne de maîtriser progressivement l’appareil industriel. L’augmentation de la cadence de production passe par une révision (souvent à la baisse) du volume des contrôles à réaliser sur le produit et par une maîtrise du flux de production. Cependant, enlever des contrôles est un acte délicat ; cela a un impact sur l’apprentissage et sur le flux de production. Lors d’apparition de problèmes, les données issues de ces mesures sont utilisées par différents outils de fouilles de données pour obtenir des corrélations et fournir des pistes d’investigation. Supprimer des contrôles, c’est ainsi prendre le risque de ne plus pouvoir investiguer au moment opportun. Ce constat est d’autant plus marqué dans les industries des semi-conducteurs où les techniques d’investigations (PLS, Datamining, commonalités) sont couramment utilisées en temps de crise mais également pour les actions quotidiennes d’amélioration continue. Par ailleurs, on constate actuellement que les équipements de métrologie deviennent des zones d’étranglement au même titre que certaines machines de production : en effet leur taux d’utilisation vise aussi à être optimisé grâce à la gestion des transports. Ainsi un lien étroit existe entre l’apprentissage, la maîtrise des rendements, la position et le nombre de contrôles et la gestion de production. Certaines études scientifiques récentes de Gershwin [5], Colledani, [6], BaudLavigne [7], ont montré la faiblesse de la prise en compte de cette corrélation néanmoins cruciale pour les systèmes de production et tout particulièrement les semi-conducteurs, et ont posé les premiers jalons d’études complémentaires approfondies. La modélisation des interactions entre les contraintes de métrologie et les contraintes de production permettra de mesurer l’impact de différentes approches d’intégration de la fonction d’apprentissage. Ce projet sera suivi par deux indicateurs classiques : l’augmentation du rendement (yield) de production lors des phases d’industrialisation d’un nouveau produit et la diminution du temps de cycle de fabrication.

Cette étude attaque donc deux verrous scientifiques :

  • la génération et la gestion du control plan (localisation des tests, et actions correctives) en fonction des évènements subis et des conclusions de l\’analyse de risques.
  • la gestion du transport automatisé sous perturbation liée à la qualité (scraps, résultats de tests) dans les unités de fabrication de semi-conducteurs.